Detaljer på forslag

Forslagstitel på sprog (en): Non-destructive testing – Measurement and evaluation of the X-ray tube voltage – Part 1: Voltage divider method (ISO 16526-1:2011)
Nummer:DSF/prEN ISO 16526-1
Type:Forslag
Kilde:CEN
Udvalg:S-239
Udvalgsnavn:Ikke-destruktiv prøvning
Forslag udgivet:12. sep 2019
Kommentarfrist:11. nov 2019
Antal kommentarer:0
Beskrivelse af forslaget:ISO 16526-1:2011 specifies a method for the direct and absolute measurement of the average high voltage of constant potential (DC) X-ray systems on the secondary side of the high voltage generator. The intention is to check the correspondence with the indicated high voltage value on the control unit of the X-ray system. This method is applied to assure a reproducible operation of X-ray systems because the voltage influences particularly the penetration of materials and the contrast of X-ray images and also the requirements concerning the radiation protection.

Du kan kommentere på alle dele af dette dokument. Forslag vises i ét af to formater:

PDF-version
HTML-version

Hvis du ser indholdsfortegnelsen i venstre side, er det HTML-formatet. For at kommentere skal du åbne de enkelte afsnit ved at klikke på afsnittet i indholdsfortegnelsen.

Hvis du i stedet bliver bedt om at downloade et dokument, er det PDF-formatet. Du skal åbne dokumentet i et separat vindue og derefter kommentere ved at angive afsnitsnummer eller -tekst i "Sektion". Der er mere vejledning, når du har klikket på "Læs forslag".

For at afsende kommentar til Dansk Standard, skal du klikke på "Send kommentar" for det aktuelle afsnit.. Hvis du ønsker at arbejde videre med dine kommentarer, skal du i stedet klikke på "Gem kommentar til senere redigering".

Du kan tilføje og ændre i gemte kommentarer, men hvis du sender kommentaren, kan du ikke vende tilbage for at redigere.

Hvis du har gemte kommentarer, som ikke er afsendt, vil du, før høringsperioden udløber, blive mindet om, at du har ikke-afsendte kommentarer.